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针对测试测量及控制(TM&C)应用的ADI DSP

--针对测试测量及控制(TM&C)应用的ADI DSP

供稿:ADI公司 2009/5/6 17:16:00

0 人气:4332

  • 关键词: 流量计 直流调速 工控
  • 摘要:ADI公司的DSP产品以其优异的综合性能和电磁兼容性受到业界广泛好评,并正在为诸多测试测量及工业控制应用系统提供核心动力。

   应用领域

  ADI公司的DSP产品以其优异的综合性能和电磁兼容性受到业界广泛好评,并正在为诸多测试测量及工业控制应用系统提供核心动力,包括但不限于:
  测试测量仪器
  数据采集、监测系统
  运动控制
  电力线保护设备
  智能电表
  铁路及轨道运输系统
  自动测试设备(ATE)等

 

  方案概述

  ADI为测试测量及工业控制应用提供多种DSP方案选择,非常适合于测试测量及工业控制应用领域需求多变和对稳定性要求极高的特点。其中包括近十年来半导体行业最耀眼的设计巨作并且树立了行业新标杆的通用DSP—Blackfin系列和业界最稳定的浮点DSP—SHARC系列。

 

  Blackfin®处理器代表了一种新型32位嵌入式处理器,它非常适合结合复杂任务调度和高性能数字信号处理的应用——所以我们也可以把他称为汇聚处理器----例如Blackfin处理器可以进行复杂的运动控制或测试测量,同时还支持多模式通信及系统任务调度。正是这种软件灵活性和可扩展性的独特结合为Blackfin处理器赢得了会聚应用领域广泛的适应性。SHARC处理器占据浮点数字信号处理器市场的主要份额,其高性能的内核具有卓越I/O吞吐率和优异的存储器性能。以每美元319 MFLOPS 起价,SHARC系列处理器为对要求广动态范围的应用(例如医用、工业和仪器仪表产品)提供浮点处理的低成本解决方案。

 

  表1:适合于测试测量及工业控制应用需求的代表性产品系列Blackfin51XX、54XX。

 

更多内容请访问 ADI公司(http://c.gongkong.com/?cid=8549)

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器件型号

时钟速度(MHz

MMACS

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封装类型

温度范围

片上L1 SRAM

L2 存储器

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